sábado, 19 de mayo de 2012

Catec transfiere a Tecnatom su tecnología para localización y registro de defectos ocultos

Catec transfiere a Tecnatom su tecnología para localización y registro de defectos ocultos:



La novedad de la tecnología que transfiere el Centro Avanzado de Tecnologías Aeroespaciales reside en que se trata de un sistema inalámbrico que permite dar solución a las limitaciones que hasta ahora tenían los END por ultrasonidos en el caso de piezas con geometrías complejas, donde resulta muy costosa la instalación y preparación de una inspección con “encoder” mecánicos que permitan obtener registros de las medidas.  Este desarrollo de CATEC permitirá además la  obtención de registros C-Scan en elementos o piezas que no admiten actualmente esta posibilidad.

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